摘要：为研究直流局部放电(PD)的指纹参数优化提取方法,利用交联聚乙烯(XLPE)电缆构建了内半导电层破损、绝缘内部气隙和绝缘表面划伤3种绝缘缺陷,测试了3种缺陷在不同电压幅值和极性下的直流PD特性,比较了传统的和基于GA-BP算法的指纹参数提取方法对绝缘缺陷类型识别的影响。研究发现:内半导电层破损缺陷在正极性下的放电重复率与平均放电量均高于负极性下的对应值;绝缘内部气隙缺陷在负极性下的放电重复率较高,平均放电量与正极性基本一致;绝缘表面划伤缺陷的放电重复率与平均放电量变化范围较大,且放电重复率明显高于另外两种缺陷时的值。利用传统的指纹提取方法得到的某一绝缘缺陷的指纹参数易受电压幅值和极性影响,而GA-BP算法提取指纹参数后可以排除这一影响。分别用传统指纹图谱与优化指纹图谱进行故障类型识别,在同类缺陷下电压幅值与极性相同时,两者识别率均高于97%;在同类缺陷下电压幅值与极性变化时,前者识别率降至87%,后者识别率仍保持在97%以上。

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