摘要：Cadence设计系统有限公司近日宣布，凭借其最新的数据压缩以及成品率诊断性能，该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence＆reg；Encounter＆reg；Test通过为非专有的片上异或（XOR）测试数据压缩结构提供更广泛的支持，解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成（ATPG）和诊断产品之间的多厂商互操作性，并支持使用一站式诊断流程。

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