首页 期刊 电力电子技术 SiC功率MOSFET器件研制进展 【正文】

SiC功率MOSFET器件研制进展

作者:柏松; 黄润华; 陶永洪; 刘奥 宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室; 南京电子器件研究所; 江苏南京210016
碳化硅   可靠性  

摘要:碳化硅(SiC)功率金属.氧化物半导体场效应管(MOSFET)以其优越的性能受到广泛关注,但受限于器件设计和工艺技术水平,器件的潜力尚未得到充分发挥。介绍了SiC功率MOSFET的结构设计和加工工艺,采用一氧化氮(NO)栅氧退火工艺技术研制出击穿电压为1800V、比导通电阻为8mΩ·cm^2的SiCMOSFET器件,测试评价了器件的直流和动态特性,关断特性显著优于SiIGBT。评估了SiCMOSFET器件栅氧结构的可靠性,器件的栅氧介质寿命及阈值电压稳定性均达到工程应用要求。

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