首页 期刊 电力电子技术 4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真 【正文】

4H-SiC TPJBS二极管器件结构和器件仿真

作者:张海鹏 齐瑞生 王德君 王勇 杭州电子科技大学 电子信息学院射频电路与系统教育部重点实验室 浙江杭州310018 大连理工大学 电子信息与电气工程学部电子科学与技术学院 辽宁大连116024 杭州汉安半导体有限公司 浙江杭州310018
碳化硅   功率器件   电学特性   器件仿真  

摘要:4H-SiC JBS器件具有通态电压较高、泄漏电流较大、静态功耗较高等缺点。为探索改善这些缺点的理论方法和技术途径,提出一种沟槽P型PN结肖特基势垒复合4H-SiC二极管。采用Silvaco TCAD对该器件的正向导通特性和反向阻断特性进行仿真,仿真结果表明,与具有类似参数的传统4H-SiC JBS相比,该器件具有更低的通态电阻、更小的反向泄漏电流及更低的静态功耗,更适合高频大功率低功耗电力电子系统应用。

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