摘要:球栅阵列封装(BGA)综合性能好,广泛应用于表面贴装。采用电子散斑干涉(ESPI)离面位移光路,在简单机械加载情况下,对板级组装BGA器件的离面位移进行测量,比较了完好BGA、焊球分层BGA与焊球脱落BGA器件的测量结果。发现焊球有缺陷样品的条纹形状与完好样品相比有明显的差别,ESPI条纹在失效焊点附近发生突变。通过计算ESPI的位移测量值后,可判断BGA焊点的失效位置。结合有限元(FEM)模拟,对位移异常的BGA焊点进行分析。通过将计算结果与ESPI的位移测量值比较,可判断BGA焊点的失效模式。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
热门期刊服务
中国ESP研究 Pedosphere Science China Earth Sciences Journal of Rare Earths Water Science and Engineering Petroleum Science Journal of Earth Science Journal of Genetics and Genomics China Petroleum Processing Petrochemical Technology Chinese Annals of Mathematics Series B Journal of Systems Engineering and Electronics Chinese Annals of Mathematics,Series B相关文章
esp理论论文