摘要：目的：探讨CT检查对脑神经元移行异常的诊断价值。方法：使用C-EMAX640型CT机进行头颅平扫，层厚间隔10mm，病变区5mm。结果：大部分脑神经元移行异常都可以通过CT平扫确诊。结论：CT平扫是脑神经元移行异常诊断的可靠方法，可提供定位、定性诊断。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社