摘要：目的:对阿德福韦酯固体制剂中阿德福韦酯晶型进行表征方法的对比评价。方法:采用粉末X-射线衍射法、差示扫描量热分析法、扫描电镜法分别对阿德福韦酯固体制剂进行分析。结果:粉末X-射线衍射法与扫描电镜法的实施过程中,辅料对阿德福韦酯的晶型表征存在一定的干扰。采用差示扫描量热分析法可以对阿德福韦酯固体制剂中阿德福韦酯的晶型进行有效表征。结论:对于阿德福韦酯固体制剂的晶型表征,差示扫描量热分析法是最适宜方法。

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