摘要：定位头影测量方法是评价颅颌面骨骼结构特征的重要手段，广泛运用于颅面生长发育预测及颅颌面骨骼特征等研究^[1]。传统方法诸如Downs分析法、Steiner分析法、Tweed分析法、Wylie分析法、Wits分析法、Ricketts分析法等对颅颌面骨骼结构的评价主要基于角度、线距、比例等，因受面高、颌骨旋转、参照平面变异等影响以及准确度、适用条件等限制，不能充分满足临床需要，

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