摘要：利用X射线衍射（XRD）、透射电子显微镜（TEM）、恒温氮气吸附等技术，研究了不同焙烧温度下制备的介孔Co3 O4纳米片的物相和微结构特点，明确了焙烧温度影响介孔Co3 O4纳米片超级电容性能的微观机理．XRD和T EM 结果表明，不同焙烧温度下获得的产物均为尖晶石结构的介孔Co3 O4纳米片，且随着焙烧温度的升高，样品的结晶性增强．恒温氮气吸附结果表明，随着焙烧温度从300℃增加到500℃，介孔Co3O4纳米片的BET 比表面积从27.9 m^2/g降低到2.2 m^2/g ．电化学测试结果表明，400℃焙烧产物具有最优的超级电容性能，其比电容值为151 F/g ，是300和500℃焙烧产物比电容值的2倍左右．基于上述表征结果，我们提出样品结晶性和表面微结构的协同作用是决定介孔Co3 O4纳米片超级电容性能的关键因素：与300℃焙烧样品相比，400℃焙烧产物具有更好的结晶性，利于电极氧化还原反应过程中电子的传输迁移；与500℃焙烧样品相比，400℃焙烧产物具有更为适中的B E T比表面积，利于电解液参与电极反应．

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