摘要：颅脑CT扫查是诊断某些中枢神经系统的重要检查方法，但价格相对比较昂贵且检查时对患儿有部分X线辐射危害，为了提高CT检查阳性率，本文回顾性分析我医院于2004-2006年对74例小儿神经系统疾病进行脑电图（EEG）和CT对比观察结果，以探讨EEG与神经系统定位体症相结合对预测CT结果异常的价值。

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