首页 期刊 原子能科学技术 GaN器件辐伏同位素电池的电输出性能研究 【正文】

GaN器件辐伏同位素电池的电输出性能研究

作者:王关全 杨玉青 刘业兵 胡睿 李昊 钟正坤 罗顺忠 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 四川绵阳621900
辐伏同位素电池   gan器件   电输出性能  

摘要:利用63Ni和3H源分别辐照两种可作为辐伏电池换能单元的GaN基PiN结型器件,其输出短路电流(Isc)和开路电压(Voe)分别为:对于63Ni源,Isc=5.4nA,Vse=771mV;对于3H源,Isc=10.8nA,Voe=839mv。其开路电压显著优于单晶硅基器件辐伏电池的输出结果,但与理论值有一定的差距。可能是GaN材料生长过程中产生的缺陷、电极欧姆接触不良以及器件结构等原因,导致短路电流和开路电压未能达到期望值。这些是提升GaN换能单元辐伏电池的电输出性能应解决的重要技术问题。

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