摘要：本发明提供X射线荧光(XRF)光谱测定系统和方法。XRF系统包括X射线辐射源、布置在X射线辐射源和试样之间的激励光学器件，以便收集来自所述辐射源的X射线辐射，并将X射线辐射聚焦到试样上的一个焦点，以引起试样中至少一种被分析物发出荧光。该系统还包括X射线探测仪和收集光学器件。收集光学器件包括至少一个双曲衍射光学器件，该双曲衍射光学器件布置在试样和X射线探测仪之间，以便收集来自试样上的焦点处的X射线荧光，并将荧光X射线导向至少一个X射线探测仪。

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