摘要：介绍了用单光束纵向扫描技术（Z扫描）测量薄膜材料的三阶非线性光学效应方法，研究了薄膜材料的非线性吸收效应对其非线性折射率测量的影响．当非线性吸收和非线性折射共存时，非线性吸收效应使Z扫描闲孔的测量曲线峰谷不对称，当耦合因子ξ=B/2kn2〉1时，峰谷特征消失，非线性折射率信息被非线性吸收掩盖．

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