摘要：以铝合金LY12为试验材料，采用MAO240／750微弧氧化设备、TT260测厚仪和AMARY-1000B扫描电子显微镜，研究了起弧电压、电流密度和氧化时间等参数对陶瓷层性能的影响。结果表明：起弧电压随着Na2SiO3浓度的增加而降低；在相同氧化时间内，随着电流密度的增加，陶瓷膜的厚度也显著地增加，陶瓷膜的致密层显微硬度也在逐渐地增加，但不是线性地增加；在相同电流密度条件下，随着时间的增加，膜层厚度和致密层硬度非线性增加．但致密层所占比例却减小。

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