首页 期刊 印染助剂 斜投影-紫外光谱对染料纯度的快速分析 【正文】

斜投影-紫外光谱对染料纯度的快速分析

作者:陆泓男; 粟晖; 姚志湘; 刘柳; 赵立军; 苏宗婷 广西科技大学生物与化学工程学院; 广西柳州545006; 广西糖资源绿色加工重点实验室(广西科技大学); 广西柳州545006
斜投影   染料   紫外光谱   纯度   快速检测  

摘要:利用斜投影算法结合紫外-可见光谱建立了染料纯度的快速检测方法。该方法通过色谱-光谱联用获取参比染料溶液的光谱数据,运用斜投影算法分离出参比染料的有效组分和背景组分,通过测定系列质量浓度参比染液的紫外-可见光谱数据,建立分析模型。采集待测产物的紫外-可见光谱数据,运用所建立的分析模型,计算待测染液的有效组分和背景组分,测得待测染液的纯度。与高效液相色谱法的结果相比,该方法相对误差小于2.5%,可用于染料生产过程中质量的快速检测及控制,为染料的实际生产过程提供依据。

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