摘要：针对企业实施统计过程控制(SPC:Statistical Process Control)所遇到的问题,提出了面向SPC的高精度位移检测系统的总体结构,给出了基于LVDT传感器的系统设计与优化方法,并讨论了系统的组网技术、数据流协议等问题.最后,采用了测量系统分析(Measurement System Analysis)方法对该检测系统的性能进行了评定.结果表明:该系统性能稳定、精度高,并且具有成本低、网络功能与大容量数据存储的优点,有较好的推广价值.

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