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真空紫外辐照引起的聚合物材料质量损失模型及实验验证

作者:郭兴 王先荣 杨生胜 王小军 兰州空间技术物理研究所真空技术与物理重点实验室 兰州730000 无锡泓瑞航天科技有限公司 无锡214000
真空紫外辐照   聚合物材料   质量损失   扩散理论  

摘要:基于扩散理论及辐射化学反应理论,建立真空紫外(VUV)辐照引起的聚合物材料质量损失数学模型。采用分离变量法与特征函数展开法,获得材料中挥发物质量随辐照剂量变化的函数关系式。通过实验得到聚酰亚胺(PI)薄膜和聚酯(PET)薄膜的质量损失数据,拟合求解模型中的参数,验证模型的适用性。实验结果表明,该质量损失模型适用于PI薄膜及PET薄膜,借助该模型可预估VUV辐照引起的材料的质量损失。

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