首页 期刊 宇航学报 一种检测和校正存储器双错的低冗余加固方法 【正文】

一种检测和校正存储器双错的低冗余加固方法

作者:祝名 朱恒静 刘迎辉 于庆奎 唐民 中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心 北京100094
存储器   抗辐射加固   错误修正码   多位翻转  

摘要:为了提高宇航用存储器的抗单粒子翻转能力,本文对传统的单错误修正、双错误探测(SingleErrorCorrectionandDoubleErrorDetection,SEC-DED)码的构造进行了改进和优化,给出了构建单错校正、双错检测、相邻双错校正(SingleErrorCorrection,DoubleErrorDetectionandDoubleAdjacentErrorCorrection,SEC—DED—DAEC)码奇偶校验矩阵的构造规则。通过适当地增加奇偶校验矩阵列向量的权重和、改变奇偶校验矩阵列向量顺序的方式,提出了一种具有新特征结构的SEC—DED—DAEC码,它可以修正任意相邻两位错误。实验结果表明,提出的SEC.DED—DAEC码是一种有效的宇航用存储器抗单粒子翻转加固措施,其冗余开销基本与传统的SEC—DED码相同,误码率低于国际同类文献的结果。

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