摘要：描述了商用Xilinx Virtex—II Pro器件的重离子辐射实验，以评估器件的单粒子翻转（SEU）特性并检验测试方法的有效性。针对器件不同的功能模块设计不同的实验方案，分别测试了FPGA配置信息，内嵌Power PC处理器和RocketIO Gbit收发器的单粒子翻转截面，并对观察到的错误进行分析与分类。实验同时表明配置信息的周期刷新和三模冗余设计是减轻单粒子效应的有效方法。

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