摘要:通过对光固化有机硅环氧树脂进行地面模拟原子氧效应试验,利用扫描电镜(SEM)和X射线光电子能谱(XPS)等分析了试验前后试样的质量损失、表面形貌和表面成分等的变化。研究结果表明,有机硅环氧树脂经紫外光固化后,试样表面被部分氧化,硅氧主链结构中的-R(甲基或苯基)侧基被不完全氧化成含O的基团结构。在7.43×10^15 atoms/cm^2·s通量的原子氧暴露8h试验后,试样表面形成一层氧化硅(SiOx)膜,膜中含65%的SiO2,有助于防止原子氧对材料的进一步侵蚀。
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