首页 期刊 仪表技术与传感器 一种容软错误的可编程老化预测传感器 【正文】

一种容软错误的可编程老化预测传感器

作者:汪康之; 徐辉; 洪炎; 易茂祥 安徽理工大学电气与信息工程学院; 安徽淮南232001; 安徽理工大学计算机科学与工程学院; 安徽淮南232001; 合肥工业大学电子科学与应用物理学院; 安徽合肥230009
负偏置温度不稳定性   老化   软错误  

摘要:为了解决老化预测传感器中存在软错误问题,采用在老化预测传感器的延迟单元加入C单元的方法。模拟老化预测传感器受到外界干扰并引起软错误的情况,检测传感器的性能。老化预测传感器能够抑制软错误引起的电路失效问题,同时不影响老化预测传感器预测老化的功能,并且相对于其他传感器的稳定性检测器部分面积开销减少了18.75%。

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