摘要：信息技术设备在正常使用过程中,其整机器件和其周围的环境不应达到过高的温度,以避免对人体的烫伤、绝缘的损坏或击穿,甚至导致着火危险。本文通过对GB4943.1-2011中发热试验的分析,阐述了几种常见的温升测试方法,并对影响试验结果的若干主要因素进行了分析。
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