首页 期刊 系统工程与电子技术 随机冲击影响的非线性退化设备剩余寿命预测 【正文】

随机冲击影响的非线性退化设备剩余寿命预测

作者:白灿; 胡昌华; 司小胜; 李洪鹏; 张正新; 裴洪 火箭军工程大学测试教研室; 陕西西安710025; 北京遥感设备研究所; 北京100854
随机冲击   非线性退化   寿命预测   期望最大化算法  

摘要:退化设备的剩余寿命(remaining useful life,RUL)预测是当前可靠性领域研究的一个热点问题。基于Wiener过程,提出一种考虑随机冲击影响的非线性退化设备RUL预测方法。首先,设备连续退化过程用一个非线性Wiener过程描述,而冲击导致退化水平突变的影响由一个复合泊松过程刻画;其次,基于所建立的退化模型和首达时间概念,推导出剩余寿命概率密度函数及其近似解析解,极大地减少了数值计算时间,并提出一种基于期望最大化算法的模型参数估计方法。数值仿真和航天锂电池实例验证表明,所提方法提高了RUL预测的准确性,对于解决存在随机冲击影响的设备RUL预测问题具有一定的理论指导意义。

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