摘要：如果将透平叶片放在三坐标测量机上检测会出现什么问题？测量效率低，叶片前后缘测量效果不佳，扭曲叶片还会产生测针半径补偿误差。如果运用一般3D光学扫描来测量叶片，对高反光表面叶片需要喷涂显影剂，这样则会造成测量结果失真，因而不能正确显示被测零件的实际情况，且设备本身精度也不高。
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