摘要:为了实现T/R组件测试系统波束控制的通用性,提出了一种基于PCIe总线的可编程模块化的波控技术。该技术应用到测试系统里可对不同类型的T/R组件进行灵活控制,模拟相控阵波束扫描方式进行性能测试,可有效地提高T/R组件的测试效率和覆盖率。
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
热门期刊服务
影响因子:0.68
期刊级别:省级期刊
发行周期:月刊
期刊在线咨询,1-3天快速下单!
查看更多>
超1000杂志,价格优惠,正版保障!
一站式期刊推荐服务,客服一对一跟踪服务!