摘要：借助51单片机、AD5933芯片及辅助电路构建了一套便携式电阻抗测试系统。提取电阻抗谱谐振峰频率偏移量作为裂纹长度的定量指标,对一维梁结构上宽度为0.5mm长度从2mm扩展到16mm的裂纹整个过程进行了连续检测。研究结果表明,随着裂纹长度的增大,一维梁结构刚度逐渐降低,频率偏移量逐渐增大。所构建测试系统对于一维梁结构的初始损伤具有很高的灵敏度,对于随后的扩展损伤也能进行有效的检测。

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