摘要：应用AFM及力曲线的统计方法(force curve method)和Tapping/Phase功能,比较系统地研究了Glass/ITO基底上旋涂厚度为5μm的非线性光学功能高分子薄膜.结果发现,不同基底对于薄膜结构及分子构象没有明显影响.客体分子(molecule-2)在常温条件下能够以氢键的方式镶嵌在主体高分子(molecule-1)链上的-OH官能团周围和相邻的分子链间,形成特征的纳米级带状结构.ITO基底上非线性光学功能高分子薄膜在160～180℃条件下和经3000 V强电场极化后,客体分子和主体高分子不同程度地进行了化学交联反应,生成新的非线性光学高分子;薄膜的微观结构由常温时的带状结构变为纳米环状结构,膜表面呈现出均匀平滑的表面形貌,并获得了理想的电光性能信号.分子键合类型的变化使得薄膜的组分发生了变化,并引起了薄膜的微观结构的改变.力曲线的统计方法和Phase的相关信息为此提供了重要证据.

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