摘要：根据CR传输线模型和QR电路之间的关系，建立了拟合其初值的计算方法，借助Z—View软件，可求得各元件精确值．根据电容(Ci)和电阻(Ri)随特征频率(f*)的分布，推导了元件相对增量与恒相位角元件(Q)指数参数n的关系，结果表明，当n小于0．5时，Ci比Ri增加得更快，从新的角度说明了n的物理意义及其和界面脱层之间的关系．作为应用实例，拟合了不同特征的电化学阻抗谱，分析了有机涂层／金属腐蚀体系阻抗变化的具体过程，区分了点蚀和脱层因素对阻抗谱的影响，从高阻抗体系同时得到了与不同空隙率有关的涂层电容和电阻值，并根据涂层体系的不均匀特征探讨了模型结构的物理意义．

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