首页 期刊 物理 碳化硅缺陷有望成为器件友好的量子比特——广泛使用的商品级半导体晶片可在室温下进行相干操控 【正文】

碳化硅缺陷有望成为器件友好的量子比特——广泛使用的商品级半导体晶片可在室温下进行相干操控

作者:杜江峰; 马文超 中国科学技术大学
量子比特   退相干   半导体晶片   商品级   碳化硅  

摘要:任何量子计算方案的中心元素都是量子比特,这是一种类似于自旋为1/2的电子的双态体系.在计算过程中,量子比特的状态经历着各种变化;计算一旦完成,需要确定量子比特是“朝上”还是“向下”的.不幸的是,量子比特也要与环境相互作用,这会使其量子态遭受破坏,或者退相干.任何有用的量子比特,在进行一系列有价值的量子操作时,都必须抵抗退相干.

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅