首页 期刊 微电子学 一种有效的3D存储器内建自修复方案 【正文】

一种有效的3D存储器内建自修复方案

作者:姚瑶; 梁华国; 应健锋; 倪天明; 易茂祥; 黄正峰 合肥工业大学电子科学与应用物理学院; 合肥230009; 安徽工程大学电气工程学院; 安徽芜湖241000
3d存储器   成品率   内建自修复   行块   列块  

摘要:与2D存储器相比,3D存储器能够提供更大的容量、更高的带宽、更低的延迟和功耗,但成品率低。为了解决这个问题,提出一种有效的3D存储器内建自修复方案。将存储阵列的每一行或每一列划分成几个行块或列块,在不同层的行块或列块之间进行故障单元的映射,使不同层同一行或同一列的故障在逻辑上映射到同一层中,从而使一个冗余行或冗余列能够修复更多的故障,大大增加了冗余资源利用率和故障修复率。实验结果表明,与其他修复方案相比,该方案的修复率更高,实现相同修复率所需的冗余资源更少,增加的面积开销几乎可忽略不计。

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

学术咨询 免费咨询 杂志订阅