首页 期刊 微处理机 测温电路全温区自动测试系统设计 【正文】

测温电路全温区自动测试系统设计

作者:肖薇; 张雷 中国电子科技集团公司第四十七研究所; 沈阳110032
测温电路   adc技术   高精度   自动测试   模块化编程技术  

摘要:根据某测温电路全温区一55益耀85益误差测试需求,设计一套全温区自动测试系统.该系统采用上下位机方式,上位机采用C语言模块化编程技术,集中控制下位机的单片机及CPLD,结合测试设备共同操作,用模拟电压代替温度传感器输出电压,以此实现测温电路全温区升降温共计28个参数点的测温精度误差自动测试任务.测试系统具有一键式操作功能,界面简洁明了,可实现全温区自动化测试,并在测试结束后自动生成测试报表,保存测温曲线.经生产测试验证表明所设计系统实时性好、可靠性高,能够保证测试的一致性,并同时大幅提高生产效率.

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