首页 期刊 微波学报 点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量 【正文】

点聚焦透镜天线分辨率的分析与测量

作者:马平; 何昌伟; 刘述章 中国空气动力研究与发展中心; 绵阳; 621000; 电子科技大学应用物理研究所; 成都; 610054
口径天线   聚焦透镜   会聚   焦斑   空间分辨率  

摘要:采用波动理论方法分析了平面电磁波经点聚焦透镜天线会聚后焦斑大小和横向空间分辨率,得出了此类天线在会聚点的天线特性与平面口径天线在无穷远处的天线特性的关系,提出了透镜天线分辨率的一种测量方法.通过实测,测量结果和理论较为吻合.

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