摘要：根据硅微粉在不同温度、不同保温时间下的X射线图谱计算其结晶程度,通过测定结晶部分的衍射强度和非晶部分的散射强度就可计算出试样的结晶度;采用日本理学社提供的D/Max系多峰分离软件程序处理试样的X射线衍射图,这种方法计算较为简单方便,所得结果与理论分析结果相符.
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