Journal Of Electronic Imaging
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Journal Of Electronic Imaging

电子影像杂志杂志

中科院分区:4区 JCR分区:Q4 预计审稿周期:约4.0个月

《Journal Of Electronic Imaging》是一本由SPIE出版商出版的计算机科学国际刊物,国际简称为J ELECTRON IMAGING,中文名称电子影像杂志。该刊创刊于1992年,出版周期为Quarterly。 《Journal Of Electronic Imaging》2026年影响因子为1,被收录于国际知名权威数据库SCI、SCIE。

ISSN:1017-9909
研究方向:工程技术-成像科学与照相技术
是否预警:否
E-ISSN:1560-229X
出版地区:UNITED STATES
Gold OA文章占比:3.01%
语言:English
是否OA:未开放
OA被引用占比:
出版商:SPIE
出版周期:Quarterly
影响因子:1
创刊时间:1992
年发文量:324
杂志简介 中科院分区 JCR分区 CiteScore 发文统计 通讯方式 相关杂志 期刊导航

Journal Of Electronic Imaging 杂志简介

《Journal Of Electronic Imaging》重点专注发布工程技术-成像科学与照相技术领域的新研究,旨在促进和传播该领域相关的新技术和新知识。鼓励该领域研究者详细地发表他们的高质量实验研究和理论结果。该杂志创刊至今,在工程技术-成像科学与照相技术领域,有较高影响力,对来稿文章质量要求较高,稿件投稿过审难度较大。欢迎广大同领域研究者投稿该杂志。

Journal Of Electronic Imaging 杂志中科院分区

中科院SCI分区数据
《新锐期刊分区表》(2026年3月发布)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 OPTICS 光学 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 4区 4区 4区
期刊分区表(2025年3月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
期刊分区表(2023年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
期刊分区表(2022年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
期刊分区表(2021年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
期刊分区表(2021年12月基础版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
期刊分区表(2020年12月升级版)
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
计算机科学 4区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术 OPTICS 光学 4区 4区 4区
中科院分区趋势图
影响因子趋势图

中科院JCR分区:中科院JCR期刊分区(又称分区表、分区数据)是中国科学院文献情报中心世界科学前沿分析中心的科学研究成果,是衡量学术期刊影响力的一个重要指标,一般而言,发表在1区和2区的SCI论文,通常被认为是该学科领域的比较重要的成果。

影响因子:是汤森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引证报告(Journal Citation Reports,JCR)中的一项数据,现已成为国际上通用的期刊评价指标,不仅是一种测度期刊有用性和显示度的指标,而且也是测度期刊的学术水平,乃至论文质量的重要指标。

Journal Of Electronic Imaging 杂志JCR分区

Web of Science 数据库
2025-2026年最新版
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 321 / 369

13.1

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 35 / 39

11.5

学科:OPTICS SCIE Q4 106 / 129

18.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 308 / 371

17.12

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 34 / 39

14.1

学科:OPTICS SCIE Q4 109 / 129

15.89

2024-2025年最新版
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 304 / 368

17.5

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 33 / 36

9.7

学科:OPTICS SCIE Q4 103 / 125

18

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 299 / 368

18.89

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 34 / 36

6.94

学科:OPTICS SCIE Q4 105 / 125

16.4

2023-2024年最新版
按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3

学科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2

学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5

学科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28

学科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75

Journal Of Electronic Imaging CiteScore 评价数据(2026年6月最新版)

  • CiteScore:2.4
  • SJR:0.249
  • SNIP:0.315

CiteScore 排名

学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:Electrical and Electronic Engineering Q3 554 / 1030

46%

大类:Engineering 小类:Computer Science Applications Q3 615 / 1022

39%

大类:Engineering 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 156 / 243

36%

CiteScore趋势图
年发文量趋势图

CiteScore:是由Elsevier2016年发布的一个评价学术期刊质量的指标,该指标是指期刊发表的单篇文章平均被引用次数。CiteScore和影响因子的作用是一样的,都是可以体现期刊质量的重要指标,给选刊的作者了解期刊水平提供帮助。

Journal Of Electronic Imaging 杂志发文统计

文章名称引用次数

  • SWCD: a sliding window and self-regulated learning-based background updating method for change detection in videos10
  • Infrared and visible image fusion based on convolutional neural network model and saliency detection via hybrid l(0)-l(1) layer decomposition8
  • Improved opponent color local binary patterns: an effective local image descriptor for color texture classification6
  • Deep learning for automated forgery detection in hyperspectral document images6
  • Lossless data hiding in JPEG images with segment coding4
  • Robust visual tracking based on deep convolutional neural networks and kernelized correlation filters4
  • Extreme learning machine for handwritten Indic script identification in multiscript documents4
  • JPEG-1 standard 25 years: past, present, and future reasons for a success4
  • Deep learning feature extraction for multispectral palmprint identification4
  • Abnormal events detection using deep neural networks: application to extreme sea surface temperature detection in the Red Sea3

Journal Of Electronic Imaging 杂志社通讯方式

《Journal Of Electronic Imaging》杂志通讯方式为:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。详细征稿细则请查阅杂志社征稿要求。本站可提供SCI投稿辅导服务,SCI检索,确保稿件信息安全保密,合乎学术规范,详情请咨询客服。

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