摘要：采用532nm，10ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验，对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析，根据实验现象，把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段：第1阶段在低能量密度激光辐照下，被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点，但其它部分仍可正常成像；第2阶段CCD探测器受到激光辐照后，在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线，亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复；第3阶段受高能量密度激光辐照后，CCD完全失效，无法恢复成像。针对CCD的饱和及恢复阶段，利用Matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理，分析了激光辐照CCD对饱和像元数和对比度的影响。结果表明：当CCD受到激光辐照时，饱和像元数迅速增多，图像对比度迅速下降为零，激光脉冲消失后，整个CCD成像亮度下降，饱和像元数迅速下降为零，经过一段时间后CCD又恢复至线性工作状态，激光的能量密度越高，CCD恢复所需的时间就越长。研究还发现：当恢复时间超过0．6s，CCD出现不可恢复的白色条带，严重影响成像质量。

注：因版权方要求，不能公开全文，如需全文，请咨询杂志社