首页 期刊 量子光学学报 单光子量子路由的耗散影响 【正文】

单光子量子路由的耗散影响

作者:李超; 施斐斐 中国兵器工业试验测试研究院; 陕西华阴714200
单光子   量子路由   耗散  

摘要:单光子量子路由对于在芯片中实现量子信息交换具有重大意义。研究单光子量子路由中的耗散影响能够更加真实的模拟实际实验的结果。研究发现耗散能级的存在使得同等条件下的量子路由概率减小,并且需要相对较强的耦合才能取得最大量子路由概率。同时,也建立了共振条件下量子路由概率同耦合强度以及耗散强度间的关系。

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