摘要：1 前言 目前用于研究颅颌面结构的方法主要有:人体测量、面像测量、头影定位片测量、CT、MRI成像测量等.虽然头影片测量有内在影像失真,反映头颅复杂结构不全面等缺点[1],但它具有诊断价值肯定、普及、便宜等优势,仍被临床广泛应用.在解读X线片时,常采用传统头影测量分析法(如Downs、Steiner等),然后用单变量统计方法来看样本间是否有差异.而我们很难定量地观察这些差异的大小、分布的范围和发展趋势,也很难判断差异是由于形状、大小还是位置不同而引起的.

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