摘要：随着集成电路复杂性的提高和SOC系统的出现,电路测试的难度也在不断增大,测试问题已经成为SOC设计的瓶颈.在研究了现存的测试控制结构后提出了基于核设计的SOC测试控制结构,它以边界扫描控制体系为基础,融合多种测试控制方法,支持不同类型的IP核进行测试.从而解决了SOC测试中控制部分的一些问题.

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