摘要：硬件系统的规模越来越大,复杂程度越来越高,对其进行测试也越来越困难,边界扫描技术很好地解决了传统测试的不足.通过分析边界扫描技术在PCB缺陷测试中的应用原理,提出了一种可以广泛应用、低廉高效的边界扫描测试方法-PPT,实现对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能.
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