首页 期刊 机电产品开发与创新 一种X射线管测试用控制器研制 【正文】

一种X射线管测试用控制器研制

作者:徐陈勇 公安部第一研究所; 北京100048
x射线管   高频逆变   uc2526adw  

摘要:在X射线管的生产过程中,对新生产完成的产品老化测试是必不可少的。为保证产品质量,满足安检领域X射线管的生产测试需要,制作完成了一套180kV/2.5mA的X射线管老化测试平台用控制器,该控制器高压和灯丝供电均采用半桥为高频逆变拓扑,以脉宽调制芯片UC2526ADW和数字控制器TMS320F2808PZA为控制核心。通过对该控制器的实际生产老化测试,结果满足应用要求。

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