摘要：互耦效应导致阵列天线单元间耦合能量的矢量和随扫描角而变化,在特定频率和方向上可能产生较大的功率反射,并且引起方向图出现虚假波瓣.运用散射参数法对阵列天线单元互耦效应进行理论分析,阐述了其对天线性能的影响,提出了各种指标的实验测试方法.

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