摘要：针对某型PCB现场失效问题开展了失效分析,发现继电器引脚与内部结构引线处遭CL元素腐蚀而断裂。为了验证失效分析的结论,确定CL元素引入路径,并进行物料择优替代,设计了CL元素腐蚀加速试验剖面,经过6个循环周期,成功复现了现场PCB失效问题,为后续产品物料替代、设计改进等提供理论依据。

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