首页 期刊 化学分析计量 用于PM2.5样品测定的全反射X荧光仪的研制 【正文】

用于PM2.5样品测定的全反射X荧光仪的研制

作者:康海英; 郑维明; 崔大庆; 徐平 中国原子能科学研究院; 北京102413
全反射x荧光仪   光路   软件   检出限  

摘要:研制适用于PM2.5样品分析的Mo靶和W靶全反射X荧光仪(TXRF)。该仪器主要部分为光路和软件系统,经过光路系统的设计、加工、调试,使入射光达到全反射;软件开发实现了控制和数据获取处理功能。Mo靶TXRF测量各元素检出限(ng)分别为K 9.4,Ca 4.1,Sc 8.5,Ti 3.0,V 3.5,Cr 3.2,Mn 1.5,Fe 0.99,Ni 0.24,Cu 0.63,Zn 0.5,Pb 1.6,Ba 11.9;W靶TXRF测量各元素检出限(ng)分别为Na 1 935,Mg 1 087,Al 1 310,K 19.4,Ca 8.8,Sc 7.0,Ti 13.5,V 7.8,Cr 2.3,Mn 4.0,Fe 4.5,Ni 4.5,Ba 6.2。重复测量100 ng的Ba和200 ng的Ti各6次,测定结果的相对标准偏差分别为5.3%,1.4%;51.2μg/cm2 Zn和9.0μg/cm2 Ca测量结果与标准值的相对偏差分别为0.2%,5.8%。用Mo靶、W靶TXRF分别连续测量标准薄膜Cu样和Fe样4 h,测定结果的相对极差分别为5.1%,6.0%。该仪器检测限低,测量重复性、准确度、长期稳定性均满足ng量级微量元素的测量需求,可用于大气微尘样品的直接测量。

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