摘要：针对圆形探测面的半导体探测器,采用解析几何和角度积分的方法,对采用基本参数荧光强度表达式计算材料荧光绝对计数的方法进行了改进,获得了荧光绝对计数随样品厚度变化的曲线。实验测量不同厚度的铜箔的荧光计数与理论计算结果的相对偏差在6.21%以内,理论曲线与实验数据趋势相符,理论计算荧光绝对强度曲线在基于荧光绝对测量方法的厚度测量中具有一定的应用价值。

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