摘要：从膨体聚四氟乙烯(ePTFE)薄膜微观泡孔结构、介电性能这两项影响宇航高速数据电缆衰减性能的关键因素出发,对ePTFE薄膜进行了扫描电镜以及介电性能测试。将测得的ePTFE薄膜的微观泡孔结构电镜图像、介电性能与ePTFE薄膜绕包宇航高速数据电缆衰减的测试结果进行对比,发现采用较优介电性能ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆的衰减并非较优,微观结构中岛状结点中纳米级孔径孔较多的ePTFE薄膜制成的宇航高速数据电缆衰减较小。

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