摘要：半导体激光器(LD)广泛应用于国防和经济的诸多领域,其精密化和集成化程度高,给嵌入式在线监测带来一定挑战。对LD有源区退化和腔面退化,在LD经典等效电路模型基础上,构建了可模拟退化过程的等效电路模型;经过仿真和对比分析,得出阈值电流和斜率效率可分别表征这两种退化的结论;针对这两个表征参数在线监测难问题,提出在LD现有监测参数基础上,补充监测调制电流,以及利用调制电流和其他已监测参数在线计算阈值电流和斜率效率的方法,并给出了调制电流的嵌入式测试方案,最后通过实物实验验证了仿真模型的准确性和嵌入式测试方法的有效性。

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