摘要：采用优化试验方法，通过对亚硫酸钠还原法制备超细Cu2O粉末的工艺路线优化，获得了不添加表面活性剂情况下高纯Cu2O制备工艺参数。利用X射线粉末衍射仪（XRD）、扫描电镜等对最优工艺参数条件下制备的样品进行了表征。结果表明，未添加表面活性剂的最优试验条件下制备Cu2O的粒径为2μm左右、含量为99．3％，样品中Cu2O、杂质等含量均优于HG2961—2010标准中优等品的要求。

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