摘要：采用X荧光光谱仪快速分析20款手机表面的Cr、 Cd、 Pb、 Hg以及Br等多种RoHS限制的有害元素含量。该方法对不同大小，形状，品牌的手机可不做任何的预处理，直接无损测定其表面有害元素。测定结果表明，抽查的20款手机，整体表现优秀，合格率达到95％；方法精密度良好。
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