首页 期刊 光谱学与光谱分析 适用于推扫式成像光谱仪的CCD拖尾扣除方法 【正文】

适用于推扫式成像光谱仪的CCD拖尾扣除方法

作者:崔毅 危峻 汤瑜瑜 马亮 中国科学院上海技术物理研究所 上海200083 中国科学院大学 北京100049
推扫式成像光谱仪   ccd   拖尾现象  

摘要:拖尾(smear)现象是面阵CCD器件的固有问题。在推扫式成像光谱仪中,拖尾对成像的作用形式较为特殊,传统的扣除方案已不再适用,急需新的适合这一应用场合的方法。通过建立光谱仪中拖尾现象的数学模型,分析并仿真了常规拖尾扣除方法的失真问题,提出了适合推扫式光谱仪器的新方法。新方法使用已知图像信息估计景物的光谱分布,以此计算光学暗行通道所代表的拖尾信号在每个应用通道中的贡献,进而实现拖尾现象的扣除。遥感图像处理结果的较为理想的LSF表明,新方法效果良好,适用于推扫式成像光谱仪中CCD拖尾现象的扣除。

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