首页 期刊 光谱学与光谱分析 Pr^3+:Y2SiO5中的反斯托克斯荧光谱及其对基态Stark分裂能级的确定 【正文】

Pr^3+:Y2SiO5中的反斯托克斯荧光谱及其对基态Stark分裂能级的确定

作者:张衍亮; 孙真荣; 李玉琼; 丁良恩; 王祖赓 光谱学与波谱学教育部重点实验室; 华东师范大学物理系; 上海; 200062
反斯托克斯荧光谱   能量转移   stark分裂   能级   脉冲激光技术  

摘要:掺杂在晶体Y2SiO5 (YSO)中的Pr3+, 运用脉冲激光激发3H4→1D2跃迁,粒子通过非辐射能量转移从能级 1D2转移到能级 3P0, 测得了对应于 3P0→3H4跃迁的反斯托克斯荧光光谱, 由此可确定 3H4的Stark分裂能级以及 3P0能级的能量高度. 与运用激光激发 3H4→1D2跃迁, 通过观察 1D2→3H4斯托克斯荧光光谱确定3H4的Stark分裂能级方法相比, 该过程避免了不同晶点位置中(Crystallographic site)Pr3+的 1D2能级间的能量转移影响, 从而具有较高的确定性. 同时, 我们观察了反斯托克斯荧光的时间特性.

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